透射电子显微镜（TEM）分析法能力介绍

透射电子显微镜（TEM）分析法主要对材料的微观组织观察与分析，包括各种结构材料、功能材料、纳米材料、薄膜材料、复合材料等。现有透射电子显微镜（TEM）四台，包括一台钨灯丝透射电镜JEM-2010、一台场发射透射电镜Tecnai G2 F20、两台超亮电子枪场发射透射电镜Talos F200X。本中心还配有Gatan原位加热、冷却样品杆，百实创INSTEMS原位芯片样品杆及其加热载台、力热耦合载台。透射电镜分析检测团队具有较高的专业素质和丰富的电镜分析与研究经验。

方法简介

波长极短的高能电子束（通常200kV）透过薄样品，与其相互作用可以产生不同的信号，通过对不同特征信号进行接收，透射电镜可实现对样品的成像及分析，其的主要检测模式为电子衍射、成像及谱学。检测项目包含常规透射电镜分析：选区电子衍射、会聚束衍射、衍射衬度成像（明场及暗场成像）、高分辨成像（HRTEM），以及多信号扫描透射电镜（STEM）成像及能谱（EDS）分析； 高分辨STEM分析：分辨率可达到1.6Å；原位透射电镜实验：原位加热、冷却、力热耦合实验。

检测标准

ASTM E 1508-12a（2019）能量色散谱成分定量分析导则